全新發布：開啟非接觸式動態測量新時代

在智能制造與工業數字化轉型的時代背景下，蔡司工業質量解決方案重磅推出新款ZEISS ARAMIS 1三維應變光學測量系統，以非接觸式全場測量、亞像素級精度和智能參數化軟件，為材料表征、部件測試及運動分析提供一體化解決方案，助力航空航天、汽車制造、電子工程及醫療技術等行業的工業研發與質量管控邁向新高度。

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升級傳統檢測體驗

全能測量，一機覆蓋

一體化傳感器集成三維坐標、應變、位移、速度、加速度及6自由度（6DoF）分析，支持從靜態載荷到高速動態測試的全場景應用。

全場測量技術不受制于傳統應變片局限，單次捕捉數千個數據點，精準解析如頸縮等非線性變形行為。  

非接觸式、高精度與靈活性

減少對樣品的物理干擾，同時在應變和位移的測量范圍上表現更出色。

能夠以亞像素精度圖像處理，檢測變形和位移。將測量頭標定數學模型、采集的測量數據和三角測量法相結合，獲得高精度的三維坐標。

可對小到幾毫米級的小型試樣，大到幾米的大型部件進行測量，適用于不同材料、幾何形狀和物體尺寸的測試，不受試樣溫度限制。

智能軟件賦能

配備ZEISS CORRELATE軟件，可在測試過程中提供支持，無縫對接測量數據流、分析和測量報告。

只需點擊幾下，即可更新測量報告和測量結果。輕松創建、追蹤和調整對齊方式及參考系統。項目模板可保存檢測步驟，并加快對測試系列的評價和記錄。

靈活擴展，穩健可靠

如果除了全場測量外，還需要進行三維接觸式測量，則需要使用接觸式探針。它由ARAMIS系統進行光學跟蹤，解決隱蔽區域測量難題。